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集成芯片測試儀器測試方法

 更新時間:2019-03-29 點擊量:1129

  集成芯片測試儀器是在元器件中芯片、半導體、集成電路測試中使用的,無錫冠亞的集成芯片測試儀器在使用的時候需要注意其測試方法,爭取更有效的運行集成芯片測試儀器。

集成芯片測試儀器

  集成芯片測試儀器運行的時候按管腳功能圖連接好測試線(壓控晶振壓控端接地),置于高低溫箱。集成芯片測試儀器在-40℃下存放1小時,開機測試起振時間不大于3秒。集成芯片測試儀器分別在-40℃、+25℃、+75℃加電各保持一小時后測試頻率。集成芯片測試儀器頻率溫度穩(wěn)定性按下式確定:f-T穩(wěn)定性=±(fmax - fmin)/fmax +fmin)

  集成芯片測試儀器將測試源、被測晶振及RM99A相噪測試儀(連接電腦)通電預熱半小時,給晶振的頻率調(diào)諧端提供合適的壓控電壓,將晶振頻率校準到標頻,調(diào)整相噪測試儀的微調(diào)旋鈕,使儀器的失鎖燈處于關閉狀態(tài),且指針穩(wěn)定在0刻度無抖動。此時可以開始測試,并在電腦上生成測試曲線,可直接讀出各點的噪聲值。

  不同集成芯片測試儀器的使用方法可能有寫區(qū)別,建議用戶根據(jù)相應集成芯片測試儀器型號設備的說明書進行使用。(本文來源網(wǎng)絡,如有侵權,請聯(lián)系刪除,謝謝。)

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