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半導體芯片高低溫測試chiller注意事項

 更新時間:2021-01-22 點擊量:1371

  元器件高低溫測試chiller的次要控制參數為制冷功能系數,額外制冷量,輸出功率以及制冷劑類型等。選用元器件高低溫測試chiller時,要考慮它的功能系數值較高的機組。

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  在選用元器件高低溫測試chiller時應優先考慮效率曲線比擬平整的機型。同時,在設計選用時應思考元器件高低溫測試chiller負荷的調理范圍。

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